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开发中采用仿真器方式对ARM¾pȝ»Ÿ的进行调试,通过ARM处理器的JTAG边界扫描口进行调试,˜q™种方式由宿ä¸ÀLœº、目标机和仿真器¾l„成ã€?
宿主机就是调试用的PC机,目标板就是嵌入式‹Ȁ光打标机控制器的核心(j¨©)板,使用的仿真器是用于ARM9的专用仿真器ã€?
JTAG调试是ARM¾pȝ»Ÿ调试时ä‹É用最多的调试æ–Ҏ(gu¨©)³•åQŒJTAG是一¿U�常用的国际标准‹¹‹试协议åQŒ主要用途有:芯片的内部测试,通过‹¹‹试其电(sh¨´)气特性判断芯片是否有问题;对芯片及(qi¨¢ng)其外设进行系¾lŸ仿真与调试。含有JTAG调试接口模块的芯片只要时钟正常,ž®±可以利用其JTAG接口来访问芯片内部的寄存器ã€?
‹Ȁ光打标机ç”?sh¨´)光转换效率高、整æœÞZ½“¿U¯小巧、输出光束质量好、可靠性高åQŒ更å…ähœ‰‘…长的运行寿命,在加工上åQ?a href="/product946359.html" target="_blank">‹Ȁ光打标机可以快速地完成表面毛刺清除、字½W¦和logo标记、äñ”品编号及(qi¨¢ng)条åŞ码的标记åQ›在日常¾l´护和ä‹É用上åQŒ激光打标机å…ähœ‰灉|´»性强、电(sh¨´)光è�{化率高、维护方便等优势。,分析F-θ镜头工作原理å�?qi¨¢ng)像差要求,æ Ò?gu¨©)�®1064nm半导体激光打标机的光源成像要求选择合适的çŽȝ’ƒ材料åQŒ合理分配每片透镜的光焦度.